回路電阻測(cè)試儀采用脈寬調(diào)制式高頻開(kāi)關(guān)電源提供大于100A的測(cè)試電流，當(dāng)按下測(cè)量鍵時(shí)，高頻開(kāi)關(guān)電源輸出大于100A以上的測(cè)試電流，同時(shí)采樣電路開(kāi)始采樣，取得的信號(hào)經(jīng)放大器放大，由A/D轉(zhuǎn)換器將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)后，再經(jīng)微處理器對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行濾波、運(yùn)算、處理，zui后送顯示器顯示出此次測(cè)量的電流和電阻值。顯示10秒鐘后，系統(tǒng)自動(dòng)復(fù)位。當(dāng)被測(cè)的回路電阻值小于400μΩ時(shí)，測(cè)量的zui小分辨率為0.1μΩ，當(dāng)被測(cè)的回路電阻值大于400μΩ時(shí)，測(cè)量的zui小分辨率為1μΩ。

阻抗分析儀IM3570特點(diǎn)
1.不同測(cè)量條件下，1臺(tái)進(jìn)行高速測(cè)量
測(cè)量電容等零部件時(shí)，有時(shí)在不同條件下(頻率、電平)測(cè)量多種測(cè)量項(xiàng)目，1條生產(chǎn)線中需要多臺(tái)測(cè)量?jī)x器。IM3570可再不同測(cè)量條件下進(jìn)行高速連續(xù)測(cè)量，1臺(tái)儀器即可滿足所有要求。
2. 檢查速度提高了2倍(跟以往型號(hào)相比)
和HIOKI的以往型號(hào)(3532-50)相比，大大縮短了測(cè)量時(shí)間。LCR模式下，以往機(jī)型一般需要5ms的測(cè)量時(shí)間，而IM3570的檢查速度提高了2倍。需要全數(shù)檢查電子零部件的生產(chǎn)線中，IM3570發(fā)揮了作用。
3. 測(cè)量的反復(fù)精度提高了1位(※1mΩ，100次測(cè)量時(shí))
功能性高分子電容在推進(jìn)低ESR化的同時(shí)，要求正確測(cè)量多個(gè)mΩ。IM3570在測(cè)量低阻抗時(shí)的精度比以往機(jī)型提高了1位，因此為用戶提供穩(wěn)定測(cè)量。
4. 廣范圍的測(cè)量頻率
IM3570可在DC和4Hz～5Hz的范圍內(nèi)設(shè)置5位分辨率的頻帶(1kHz以下為0.01Hz分辨率)?？稍诮咏舱耦l率的測(cè)量和工作條件的狀態(tài)下進(jìn)行測(cè)量和評(píng)價(jià)。
5. 15種測(cè)量參數(shù)
可測(cè)量Z、Y等15種參數(shù)，并將需要的參數(shù)讀取至計(jì)算機(jī)中。
6. 具備防止誤操作的接觸檢查功能
裝載了4端子測(cè)量、2端子測(cè)量的接觸檢查功能。防止在測(cè)量電極不接觸被測(cè)物的狀態(tài)下測(cè)量的情況，因此可以避免出現(xiàn)未檢查的產(chǎn)品出廠。
7. 廣范圍的測(cè)量電壓/電流
外加一般的開(kāi)路信號(hào)發(fā)生，可在恒壓/恒流模式下進(jìn)行考慮到電壓/電流依存性的測(cè)量。可設(shè)置廣范圍的、5mV～5V/10μA～50mA(～1MHz)以下的測(cè)量信號(hào)電平。
8. 測(cè)試線可延長(zhǎng)至4m